ГЛОССАРИЙ
|
№ п/п |
Новое понятие |
Содержание |
|
1 |
Активный режим биполярного транзистора |
режим биополярного транзистора, при котором один переход смещен в прямом направлении, а другой – в обратном |
|
2 |
Акцепторы |
примеси, атомы которых способны при возбуждении принять валентные электроны соседних атомов, создав в них дырку |
|
3 |
Амплитудно-частотная характеристика (АЧХ) усилителя |
зависимость модуля коэффициента усиления К от частоты |
|
4 |
База |
область, в которую инжектируются носители заряда и где они являются неосновными |
|
5 |
База биполярного транзистора |
средняя область в p-n-p- (или n-p-n-) структуре, характеризуется наименьшей концентрацией примесей, посредством омического контакта соединена с выводом, называемым базой |
|
6 |
Базовый матричный кристалл (БМК) |
матрица нескоммутированных элементов, электрические связи между которыми формируются в соответствии с назначением микросхемы на этапе формирования разводки |
|
7 |
Барьер Шотки |
потенциальный барьер, полученный на контакте металл – полупроводник |
|
8 |
Барьерная емкость |
емкость, обусловленная перераспределением зарядов в переходе |
|
9 |
Биполярный транзистор |
полупроводниковый прибор с двумя взаимодействующими электрическими переходами и тремя (или более) вывода-ми, усилительные свойства которого обусловлены явления-ми инжекции и экстракции неосновных носителей заряда |
|
10 |
Варикап |
полупроводниковый диод, в котором использовано свойство р-n-перехода изменять барьерную емкость при изменении обратного напряжения |
|
11 |
Вольт-амперная характеристика р-n-перехода |
зависимость тока через р-n-переход от приложенного к нему напряжения |
|
12 |
Время восстановления обратного сопротивления диода |
время, в течение которого обратный ток изменяется от максимального значения до установившегося |
|
13 |
Время жизни носителей заряда |
среднее время существования пары носителей заряда |
|
14 |
Высота потенциального барьера в полупроводнике |
высота потенциального барьера, возникающего в р-n-переходе и равная контактной разности потенциалов |
|
15 |
Генерация пары носителей заряда |
процесс образования пары “электрон проводимости – дырка проводимости” |
|
16 |
Гибридные ИМС |
микросхемы, представляющие собой комбинацию пленоч-ных микросхем, навесных дискретных (активных) компо-нентов и полупроводниковых ИМС, которые обычно распо-лагают на диэлектрической подложке пленочной ИМС |
|
17 |
Динамический диапазон усилителя |
диапазон напряжений сигнала, который данный усилитель может усилить без внесения помех и искажений сверх нормы, и равен отношению максимального напряжения входного сигнала к его минимальному напряжению |
|
18 |
Диффузионная емкость |
емкость, связанная с изменением инжектированных носи-телей при изменении напряжения: |
|
19 |
Диффузионный ток |
перемещение основных носителей заряда через р-n-переход в смежные области происходит за счет диффузии против поля р-n-перехода |
|
20 |
Дрейф усилителя |
отклонение напряжения на выходе усилителя от начального (нулевого) значения в отсутствие сигнала |
|
21 |
Дрейфовый ток |
перемещение неосновных носителей в направлении поля |
|
22 |
Дырка |
свободное место в связях на месте электрона |
|
23 |
Затвор транзистора |
общий электрод от контактов областей |
|
24 |
Зона проводимости |
свободная зона, в которой при температуре 0 К электронов нет, а при более высокой температуре они могут в ней находиться |
|
25 |
Инверсный режим биполярного транзистора |
смещение на p-n-переходах противоположное: коллектор выполняет роль эмиттера, а эмиттер – роль коллектора |
|
26 |
Инжекция |
при прямом смещении перемещение основных носителей заряда через потенциальный барьер в смежную область, где они являются неосновными |
|
27 |
Интегральная микросхема |
микроэлектронное изделие, выполняющее определенную функцию преобразования и обработки сигнала (или накоп-ления информации) и имеющее высокую плотность упа-ковки электрически соединенных элементов (или элемен-тов компонентов) и (или) кристаллов, которое с точки зрения требований к испытаниям, приемке, поставки и эксплуатации рассматривается как единое целое |
|
28 |
Исток транзистора |
контакт, через который носители заряда входят в канал |
|
29 |
Канал транзистора |
часть объема пластины полупроводника, расположенная между p-n-переходами, является активной частью транзистора |
|
30 |
Каскады предварительного усиления |
каскады служащие для усиления тока, напряжения или мощности сигнала до значения, необходимого для подачи на вход мощного усилителя |
|
31 |
Коллектор биполярного транзистора |
крайняя область в p-n-p- (или n-p-n-) структуре биполярного транзистора, используемая для экстракции (втягивания) носителей из области базы; посредством омического контакта соединена с выводом, называемым коллектор |
|
32 |
Лавинный пробой |
пробой при котором в полупроводниках с широким р-n-перехо-дом в сильном электрическом поле возникает ударная иониза-ция атомов р-n-перехода, процесс нарастает лавинообразно, что приводит к значительному возрастанию обратного тока |
|
33 |
Малосигнальные параметры транзистора |
параметры транзистора, используемого в усилительных устройствах для малых переменных токов |
|
34 |
Многокаскадные усилители |
усилители, образованные путем соединения между собой с помощью элементов связи нескольких усилительных каскадов |
|
35 |
Нормальный режим биполярного транзистора |
режим биополярного транзистора, при котором в прямом на-правлении включен эмиттерный переход, а коллекторный – в обратном |
|
36 |
Обратная связь в усилителях |
передача части энергии усиливаемого сигнала из выходной цепи усилителя во входную |
|
37 |
Обратная связь по напряжению |
цепь ОС, соединенная с выходом схемы параллельно нагрузке так, что напряжение ОС пропорционально напряжению на нагрузке усилителя |
|
38 |
Обратная связь по току |
цепь ОС, соединенная с выходом схемы последовательно с нагрузкой так, что напряжение ОС пропорционально току в нагрузке |
|
39 |
Оптоэлектроника |
область электроники, охватывающая вопросы теории и практического применения методов преобразования оптических (световых) сигналов в электрические и наоборот в системах передачи, обработки и хранения информации |
|
40 |
Оптрон |
оптоэлектронный прибор имеющий две пары зажимов: входные соединеных с фотоизлу-чающим прибором – светодиодом, выходные – с фото-приемником (например с фотодиодом), при этом входная и выходная цепи гальванически не связаны между собой |
|
41 |
Пленочные ИМС |
изолирующая подложка (основание), на поверхности которой все элементы и межсоединения сформированы в виде послойно нанесенных пленок |
|
42 |
Полевой транзистор |
полупроводниковый прибор, усилительные свойства которого обусловлены потоком основных носителей, протекающим через проводящий канал и управляемым электрическим полем |
|
43 |
Полупроводник n-типа |
приместный полупроводник электропроводность в кото-ром обусловлена в основном электронами |
|
44 |
Полупроводники p- типа |
примесный полупроводник электропроводность в котором обусловлена в основном дырками |
|
45 |
Полупроводниковая ИМС |
полупроводник, в поверхностном слое и объеме которого сформированы области, эквивалентные элементам электрической схемы, изоляции и межсоединения |
|
46 |
Полупроводниковый диод |
полупроводниковый прибор с одним электрическим переходом и двумя омическими контактами, к которым присоединяются два вывода |
|
47 |
Примесная электропроводность |
электропроводимость полупроводника при внесении в него примеси |
|
48 |
Программируемая логическая матрица (ПЛМ) |
матрица логических элементов, электрические связи между которыми определяются путем программирования |
|
49 |
Прямое включение p-n-перехода |
электрическое поле источника напряжения направлено навстречу контактному полю |
|
50 |
Режим А работы усилительного каскада |
начальная рабочая точка А находящаяся примерно в середи-не линейной части проходной характеристики, а амплитуда сигнала такова, что ток в выходной цепи протекает в течение всего периода сигнала, и угол отсечки |
|
51 |
Режим В работы усилительного каскада |
начальная рабочая точка А лежащая в начале проходной характеристики, а ток коллектора проходит через активный элемент лишь в течение отрицательного (для транзистора типа р-n-р) полупериода входного напряжения, во время же другого полупериода тока нет, т.е. активный элемент “заперт” |
|
52 |
Режим насыщения |
режим работы, когда оба p-n-перехода биполярного транзистора смещены в прямом направлении |
|
53 |
Режим отсечки транзистора |
режим работы, когда оба перехода биполярного транзис-тора смещены в обратном направлении |
|
54 |
Рекомбинация |
процесс воссоединения электрона и дырки |
|
55 |
Светодиоды |
излучающие полупроводниковые приборы с одним p-n-переходом, преобразующие электрическую энергию в энергию некогерентного светового излучения |
|
56 |
Свободные зоны |
разрешенные зоны, в которых электроны отсутствуют |
|
57 |
Скомпенсированный полупроводник |
полупроводник, у которого концентрации доноров |
|
58 |
Собственная электропроводность |
электропроводность собственного полупроводника, возникающая за счет нарушения ковалентных связей |
|
59 |
Собственные шумы усилителя |
сигналы на выходе усилителя, существующие и при отсутствии усиливаемых сигналов на его входе |
|
60 |
Стабилитрон |
полупроводниковый диод, работающий в режиме электри-ческого пробоя, принцип работы которого основан на том, что при обратном напряжении на p-n-переходе в области электрического пробоя напряжение на нем практически не изменяется при значительном изменении тока |
|
61 |
Статические характеристики биполярного транзистора |
характеристики, описывающие взаимосвязь между вход-ными и выходными токами и напряжениями транзистора, когда в цепи коллектора нет нагрузки |
|
62 |
Сток транзистора |
контакт, через который носители заряда вытекают из канала |
|
63 |
Тепловой пробой p-n-перехода |
пробой p-n-перехода, сопровождаемый разрушением крис-таллической структуры полупроводника, и возникает, когда мощность, выделяемая в p-n-переходе при протекании через него обратного тока, превышает мощность, которую способен рассеять p-n-переход |
|
64 |
Тепловой ток |
ток, образованный неосновными носителями заряда и зави-сящий от скорости тепловой генерации носителей заряда |
|
65 |
Тиристоры |
полупроводниковые приборы с двумя устойчивыми режи-мами работы (включен, выключен), имеющие три или более p-n-переходов |
|
66 |
Туннельный пробой |
пробой, который возникает в полупроводниках с узким р-n-переходом и свя-зан с туннельным эффектом, когда под воздействием очень сильного поля носители заряда могут переходить из одной области в другую без затраты энергии |
|
67 |
Уровень Ферми |
энергия, соответствующая энергетическому уровню, вероятность заполнения которого при |
|
68 |
Усилители |
устройства, с помощью которых путем затраты небольшо-го количества электрической энергии управляют энергией существенно большей |
|
69 |
Усилители постоянного тока |
приборы, которые могут усиливать медленно изменяющиеся электрические сигналы, т.е. они способны усиливать не только переменные, но и постоянные составляющие напряжения и тока |
|
70 |
Усилитель мощности |
усилитель предназначенный для отдачи в нагрузку сигнала требуемой мощности и может состоять из нескольких каскадов |
|
71 |
Фазочастотная характеристика (ФЧХ) усилителя |
зависимости угла сдвига фазы (между выходным и входным напряжениями усилителя от частоты) |
|
72 |
Фотодиоды |
полупроводниковые фотоэлектрические приборы с одним p-n-переходом и двумя контактами, принцип действия которых основан на использовании внутреннего фотоэффекта |
|
73 |
Фоторезисторы |
полупроводниковые приборы, которые имеют два контакта и электрическое сопротивление которых изменяется в зависимости от интенсивности и спектрального состава падающего излучения |
|
74 |
Фототранзистор |
полупроводниковый фотоэлектрический прибор с двумя p-n-переходами |
|
75 |
Фотоэлектрические приборы |
приборы, в которых лучистая энергия преобразуется в электрическую |
|
76 |
Цепи высокочастотной коррекции |
цепи, изменяющие частотную характеристику на верхних частотах и переходную характеристику в области малых времен |
|
77 |
Цепи низкочастотной коррекции |
цепи, изменяющие частотную характеристику в области нижних частот и переходную характеристику в области больших времен |
|
78 |
Экстракции |
процесс выведения неосновных носителей заряда через пере-ход под воздействием поля этого перехода при подключении р-n-перехода к источнику внешнего напряжения |
|
79 |
Электрический пробой |
пробой, который связан со значительным увеличением напряженности электрического поля в р-n-переходе (более 105 В/см) |
|
80 |
Электронно-дырочный переход |
область внутри монокристалла полупроводника на границе раздела его двух сред с разным типом примесной электропроводности |
|
81 |
Эмиттер |
область, из которой инжектируются носители заряда |
|
82 |
Эмиттер биполярного транзистора |
крайняя область в p-n-p (или n-p-n) структуре биполярного транзистора, используемая для инжекции (впрыскивания) носителей в область базы, посредством омического контакта соединена с выводом, называемым эмиттер |
|
83 |
Энергия ионизации |
расстояние от потолка валентной зоны до акцепторного уровня |
Примечание. Знаком (*) отмечены работы, на основе которых составлен тематический обзор.
(или от угловой частоты)


равен 180°
и акцепторов
равны
0 К равна 1/2